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日本JC功率器件测试座GD21-R2PAK-K-S141X146-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于R2PAK封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。
日本JC功率器件测试座GD21-TOLT-K-S103X101-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于TOLT封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。
日本JC功率器件测试座GD26-QDPAK-K-S151X155半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于QDPAK封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。
日本JC功率器件测试座GD21-HU3PAK-K-S141X142-FL 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于HU3PAK封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。
日本JC功率器件测试座GD18-TO252-K-755 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于TO252封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。
岩崎曲线图示仪适配器与CS-500兼容  IWATSU静态半参专用测量插座 功率器件分析仪测试座  定制夹具
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定制型测试座 IWATSU半导体曲线跟踪器适配器与“CS-500”兼容。岩崎CS-3000/5000/10000等曲线绘图仪定制专用,能够测量IV(电流-电压)和CV(电容-电压)特性。
是德科技曲线追踪仪B1506A专用测量插座 KEYSIGHT功率器件分析仪测试座  半导体静态测试定制夹具
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B1506A专用测量插座- 与Keysight B1506A电源器件分析仪兼容,能够测量IV特性和CV特性。
定制高性能型功率器件测试座 适用于TO-247-3和TO-220等3端子封装 T3P-HH-KL-250(耐高温250℃)
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它的插座设计用于高性能应用。满足单个半导体器件的需求。类似于功率晶体管和晶闸管。它支持高电流、高电压。以及高温环境。该插座与诸如以下包兼容:TO-247和 TO-220等封装
高性能型功率器件测试座适用于TO-247、TO-3P、TO-264、TO-247 4L 和 TO-220等封装 T220-HH-KL-150
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它的插座设计用于高性能应用。满足单个半导体器件的需求。类似于功率晶体管和晶闸管。它支持高电流、高电压。以及高温环境。该插座与诸如以下包兼容:TO-247、TO-3P、TO-264、TO-247 4L 和 TO-220。
高性能型功率晶体管插座适用于3端子封装 / DC50A at 25°C用于PCB板安装 / 开尔文连接 T3P-HH-KL-220-FL
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这个插座专为高性能设计,支持对单个半导体器件(如功率晶体管和晶闸管)进行测试,适用于高电流和高电压应用。 兼容TO-247、TO-3P、TO-264等封装。
高性能型功率晶体管插座适用于TO-247 4L 封装 / DC50A at 25°C用于 PCB板安装 开尔文连接  T4P-HH-KL-220-FL
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该插座设计用于高性能,支持测试单个半导体器件,如功率晶体管和可控硅,并适用于高电流和高电压应用。兼容TO-247、TO-3P、TO-264等封装。
日本JC功率器件测试座GD18-TO263-7-K-109 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具 动态/静态参数精确评估 适用于TO-263-7封装
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表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠,高电压,大电流,低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座,例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PAK。

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