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隔离型电流探头 低频交直流探头 HIOKI 日本 产品中心

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日置开口型电流传感器 CT6846-05
HIOKI 日本
日置开口型电流传感器,额定 1000 A AC/DC,频带 DC~20kHz (-3dB),基本精度 ±0.3%rdg.±0.02%f.s.(DC)(相位 ±0.1°),可测导体直径 φ50mm,输出 2mV/A,零磁通法(霍尔+CT)测量,1000A 大电流,ME15W输出(CT6846为PL23)适用于逆变器效率评估、SiC/GaN 高频功率测量、大电流波形观测。
日置开口型电流传感器 CT6845-05
HIOKI 日本
日置开口型电流传感器,额定 500 A AC/DC,频带 DC~100kHz (-3dB),基本精度 ±0.3%rdg.±0.02%f.s.(DC)(相位 ±0.1°),可测导体直径 φ50mm,输出 4mV/A,零磁通法(霍尔+CT)测量,大口径φ50mm,可夹粗配线,ME15W输出(CT6845为PL23)适用于逆变器效率评估、SiC/GaN 高频功率测量、大电流波形观测。
日置开口型电流传感器 CT6844-05
HIOKI 日本
日置开口型电流传感器,额定 500 A AC/DC,频带 DC~200kHz (-3dB),基本精度 ±0.3%rdg.±0.02%f.s.(DC)(相位 ±0.1°),可测导体直径 φ20mm,输出 4mV/A,零磁通法(霍尔+CT)测量,小尺寸高精度大电流,ME15W输出(CT6844为PL23)适用于逆变器效率评估、SiC/GaN 高频功率测量、大电流波形观测。
日置开口型电流传感器 CT6843-05
HIOKI 日本
日置开口型电流传感器,额定 200 A AC/DC,频带 DC~500kHz (-3dB),基本精度 ±0.3%rdg.±0.02%f.s.(DC)(相位 ±0.1°),可测导体直径 φ20mm,输出 0.01V/A,零磁通法(霍尔+CT)测量,单手一键开合,使用温度-40~85℃,ME15W输出(CT6843为PL23)适用于逆变器效率评估、SiC/GaN 高频功率测量、大电流波形观测。
日置闭口型电流传感器 CT6863-05
HIOKI 日本
日置闭口型电流传感器,额定 200 A AC/DC,频带 DC~500kHz (-3dB),基本精度 ±0.05%rdg.±0.01%f.s.(DC-400Hz)(相位 ±0.2°),可测导体直径 φ24mm,输出 0.01V/A,零磁通法(霍尔+CT)测量,使用温度-30~85℃,外部DC±11~15V供电,ME15W输出(CT6863为PL23)适用于逆变器效率评估、SiC/GaN 高频功率测量、大电流波形观测。

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