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PMK 耐高温低温电压探头ENVI@PUHT 835-312-U01无源被动探头 -55℃~200℃ 高频500M/1250Vpk PMK 耐高温低温电压探头ENVI@PUHT 835-312-U01无源被动探头 -55℃~200℃ 高频500M/1250Vpk 品牌：PMK 德国 产地：德国 ENVI® 无源探头非常适合环境测试、恶劣环境以及 -55°C 至 +155°C 气候室中的测量。835-312-U01 PUHT: -55°C to 200°C 画册 说明书 详情
T&M 同轴电阻W 系列夹紧型扁平电缆输入型W-1-01C-1FC高频无感同轴分流器CVR T&M 同轴电阻W 系列夹紧型扁平电缆输入型W-1-01C-1FC高频无感同轴分流器CVR 品牌：T&M 美国 产地：美国 T&M 同轴电阻 W 系列 - 夹紧型 - 扁平电缆输入型W-1-01C-1FC，5Watt ; 阻值0.01欧姆，带宽800Mhz， 20J焦耳热 画册 说明书 详情
Cybertek 知用无源高压探头HP6603 高压60KV DC+ACpk，高频50MHz Cybertek 知用无源高压探头HP6603 高压60KV DC+ACpk，高频50MHz 品牌：Cybertek 知用 产地：中国 HP6603 是一款高压无源电压探头。该探头具备 2000 倍的衰减比，最高可测量 80kV 的脉冲信号，60kV的直流信号，带宽最高可达 50MHz，能够满足大部分高压测量的需求。 画册 说明书 详情
Cybertek 知用高频低压差分探头DP6060B（60Vpk/ 1GHz）有效值42V，精度1% Cybertek 知用高频低压差分探头DP6060B（60Vpk/ 1GHz）有效值42V，精度1% 品牌：Cybertek 知用 产地：中国 DP6060B探头是具有浮地测量功能的低压差分探头。测量电压60Vpk有效值42V,其带宽最高达1GHz，提供 50:1 的衰减设置 画册 说明书 详情
Cybertek 知用高频低压差分探头DP6040B（40Vpk/ 1GHz）有效值28V，精度1% Cybertek 知用高频低压差分探头DP6040B（40Vpk/ 1GHz）有效值28V，精度1% 品牌：Cybertek 知用 产地：中国 DP6040B探头是具有浮地测量功能的低压差分探头。测量电压40Vpk有效值28V,其带宽最高达1GHz，提供 20:1 的衰减设置 画册 说明书 详情
Cybertek 知用高频低压差分探头DP6020B（20Vpk/ 1GHz）有效值14V精度1% Cybertek 知用高频低压差分探头DP6020B（20Vpk/ 1GHz）有效值14V精度1% 品牌：Cybertek 知用 产地：中国 DP6020B探头是具有浮地测量功能的低压差分探头。测量电压20Vpk有效值14V,其带宽最高达1GHz，提供 10:1 的衰减设置 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD21-R2PAK-K-S141X146-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于R2PAK封装 日本JC功率器件测试座GD21-R2PAK-K-S141X146-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于R2PAK封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD21-TOLT-K-S103X101-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TOLT封装 日本JC功率器件测试座GD21-TOLT-K-S103X101-FL半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TOLT封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD26-QDPAK-K-S151X155半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于QDPAK封装 日本JC功率器件测试座GD26-QDPAK-K-S151X155半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于QDPAK封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD21-HU3PAK-K-S141X142-FL 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于HU3PAK封装 日本JC功率器件测试座GD21-HU3PAK-K-S141X142-FL 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于HU3PAK封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
日本JC功率器件测试座GD18-TO252-K-755 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO252封装 日本JC功率器件测试座GD18-TO252-K-755 半导体SiC/GaN MOSFET测试安装夹具动态/静态参数精确评估适用于TO252封装 品牌：JC日本 产地：日本 表面贴装功率器件测试插座:SiC/GaN 时代的高低温、高可靠，高电压，大电流，低电感。我们提供与引起行业关注的新型表面贴装封装兼容的各种测试插座，例如 TOLL、QDPAK、R2PAK 和HU3PA 画册 说明书 详情
力高捷创仪器Jectronic 动态和静态测试系统温控设备半导体功率器件加热系统PHS-100D两通道 力高捷创仪器Jectronic 动态和静态测试系统温控设备半导体功率器件加热系统PHS-100D两通道 品牌：捷创仪器 产地：中国 适用于TO 247-3和TO 247-4封装的器件加热系统，可搭配双脉冲动态参数测试设备或半导体静态参数测试仪使用。 画册 说明书 详情

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