IWATSU岩崎&株洲中车 最新测量技术交流会

IWATSU岩崎&中车 

关于SiC/GaN 动态参数测量新技术交流会

全球首款光隔离电流与ON电压测量方案

近日，IWATSU岩崎在株洲举办关于SiC/GaN 动态参数测量新技术交流会。

株洲中车由中车株洲电力机车研究所、株洲中车时代电气及株洲中车时代半导体三个单位的专家工程师们参会。

本次交流会首先由IWATSU岩崎通信机株式会社测试部专家長浜先生带来最前沿的技术分享。

其中，全球首款光隔离电流与ON电压测量方案成为亮点。

OpECS光隔离电流探头是一种光电完全隔离测量的电流探头，在150MHz带宽下可以实现非接触测量，

可以准确测量电流大小。在功率半导体接线封装上的电流测量和功率器件的开关电流波形测量上有所应用。

SS-350 是一种可在 MOSFET 等开关器件开启时测量开关间电压(ON 电压)的专业探头。

通过限制开关器件关断时产生的高电压，可以更准确地测量低导通电压。

在测量SiC器件导通电阻和GaN器件电流崩溃的导通电阻中有所应用

IWATSU的技术专家就测量应用中的疑难杂症技术难点分享了很多解决方案，满满的干货。

会场中，IWATSU的专家和中国代理方（长沙力高捷创仪器）的工程师，

就中车专家工程师们提出的问题作出解答探讨，展开了精彩的互动交流。

会场还展示了IWATSU岩崎的一些高端仪器设备，

如：测软磁性材料的B-H分析仪、测半导体静态的CS曲线图示仪

以及定制化双脉冲动态测试系统包括光隔离电压探头和罗氏线圈等。

参会的专家老师们现场观摩演示操作各类仪器。

 在两场交流会中，长滨先生解答了湖大师生和中车工程师许多在应用中的问题，

我们也了解到许多实际测试中的痛点、难点，整个现场交流氛围良好，大家都受益匪浅。

本次交流会取得圆满成功！